儀科中心續奪 2008 年台北國際發明展四面金牌一面銅牌

九十七年十月八日新聞資料

國家實驗研究院儀器科技研究中心繼過去參加台北國際發明暨技術交易展優異的獲獎紀錄後，今年再度展現亮麗佳績，續奪四面金牌與一面銅牌。此次得獎除說明了儀科中心所研發成果足具創新性與多元的實用價值外，其在儀器科技累積的研發實力不容小覬。

2008 年台北國際發明暨技術交易展是由經濟部、行政院國科會、行政院農委會、教育部及國防部共同主辦，於 9 月 25 日至 28 日在台北世貿中心舉行，共有 17 國、795 件作品參與競賽，評審結果 395 項作品得獎，包括金牌 118 名、銀牌 118 名及銅牌 159 名。

儀科中心獲獎的「晶片瑕疵檢測裝置及其檢測方法」可內建於生產機台上，其特色為檢測時間短及受測晶粒模組無須精密定位，可大幅縮短檢測時間與人力，降低生產成本，利用該設備能夠協助半導體廠適時淘汰瑕疵品，提高產品良率。

「單週期波及連續週期波高電壓信號產生器」是將單週期雙極性信號波形輸出應用於微步精確調整控制的重要工具，可廣泛應用於壓電材料的驅動、光電管、光譜儀、微機電、奈米科技工程、生物產業機電工程及靜電效應等。

「色彩辨識裝置及方法」則是利用電子影像處理的方式，在不失影像強度下，強化特定色彩，並易於調整影像個別色彩之強度與亮度；此外，可利用影像特徵輔助標示的方式，進一步幫助色盲患者辨識色彩。

「透鏡量測裝置及其量測方法」由本中心與台灣大學機械系馬劍清教授共同合作，採用極化光學原理架設，並使用自動化光學檢測技術，可有效應用於大量光學鏡片的偏心與傾斜檢測；同時提供真圓度與透鏡能量的測試。此系統除獲得該發明展頒發金牌獎外，因其獨創性亦獲頒「波蘭發明人協會」特別獎。

「透鏡變形之檢測方法及裝置」為一種透鏡變形程度的檢測方法，係藉由觀察該待測透鏡之極化補償影像來達成，以判斷該待測透鏡之變形程度，此系統獲得該發明展頒發銅牌獎。

儀科中心近年來配合國家科技政策，以儀器科技發展為主軸，積極地建構研發平台、推動前瞻科技、支援學術研究與培育人才，致力提升我國學術研究水準與高科技產業技術。此次獲獎突顯其研發成果與創新實力再獲外界肯定，也為我國的高科技產業展現出具體貢獻。

更新日期：2009 年 10 月 1 日