TAF 專業實驗室認證
TAF 認可符合 ISO/IEC 17025 之專業實驗室與認證項目
| 實驗室名稱 | 認證項目 | 驗證範圍 | |
|---|---|---|---|
| 儀器科技研究中心 真空標準室 (實驗室編號：0081) |
KD2002 (校正) |
離子真空計 | 2.05E-05 Pa to 8.78E-04 Pa > 8.78E-04 Pa to 2.40E-02 Pa |
| KD2003 (校正) |
電容式真空計 | 5.0E-01 Pa to 9.0E+04 Pa | |
| KD2006 (校正) |
其他真空計 | 5.0E-1 Pa to < 9.0E-01 Pa 9.0E-01 Pa to < 5.0E+3 Pa 5.0E+3 Pa to 9.0E+4 Pa |
|
| 儀器科技研究中心 薄膜測試實驗室 (實驗室編號：1889) |
O001 (測試) |
薄膜反射率 | 可見光：400 nm to 700 nm |
| O001 (測試) |
薄膜穿透率 | 可見光：400 nm to 700 nm | |
| 儀器科技研究中心 光電檢校實驗室 (實驗室編號：1529) |
KG3012 (校正) |
輝度計/輝度色度計 | 輝度：(10 to 20000) cd/m^2 色度(x,y)： 近似 A 光源 相關色溫： 近似 A 光源 |
| KG3027 (校正) |
光澤板 | (70 to 100) GU (20º) (81 to 100) GU (60º) (98 to 100) GU (85º) |
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| 儀器科技研究中心 光電檢校實驗室 (實驗室編號：2340) |
O999 (測試) |
曲率半徑 | 凸面鏡：>= 5 mm 凹面鏡：>= 6 mm |
| O999 (測試) |
折射率 | 1.3000 nD to 1.7200 nD | |
| 儀器科技研究中心 掃描探針顯微術標準實驗室 (實驗室編號：1958) |
KA2014 (校正) |
線距標準 | 100 nm to 10 µm |
| 儀器科技研究中心 電顯標準實驗室 (實驗室編號：1957) |
KA2014 (校正) |
線距標準片 | 80 nm to 100 nm >100 nm to 200 nm >200 nm to 500 nm >500 nm to 1000 nm >1000 nm to 2000 nm |
98 年服務成果
- 報告數總計：194 件。
- 具 LOGO 報告數總計：156 件
99 年服務成果
- 報告數總計：218 件。
- 具 LOGO 報告數總計：171 件
更新日期：2011 年 9 月 14 日
